作为我们leitech产品的一个补充，我们生产这种用于检测光面孔的尺寸公差和深度。公差在±2um的范围内。

这种光面规可以通过:High-resolution, Combi, Digi 和Traditional Gauge塞规的形式实现。

维护

对于此类产品，我们提供相应的拆换工具和校准工具。